兆威機電通過在齒輪及齒輪箱領域多年的設計、開發(fā)、生產，通過行業(yè)的對比及大量的實驗測試數據設計開發(fā)出行星齒輪箱,微型減速電機,齒輪箱電機

行星齒輪箱中缺陷磁痕的評定可采用以下規(guī)定： 

1）磁粉檢驗的所有缺陷磁痕的尺寸、數量以及產生部位均應記錄，并圖示。磁痕的記錄可采用膠帶法、照相法以及其他有效的方法;

2）長度與寬度之比大于3的缺陷顯示磁痕，則按線性缺陷處理；長度與寬度之比小于或等于3倍的缺陷顯示跡痕，則按圓形缺陷進行處理；

3）兩條或兩條以上缺陷顯示跡痕在同一直線上，其間距小于或等于2mm時，則按一條缺陷處理，其長度為顯示跡痕長度之和加間距；

4）除確認顯示痕跡是由外界幾何因素或操作不當造成的之外，其他大于或等于0.5mm的顯示痕跡均應作為缺陷側很處理.

以上內容摘自《齒輪驅動設計手冊》 化學工業(yè)出版社

兆威機電成立來，教授,博士,碩士等組成的微型減速電機研發(fā)團隊，為博世等研發(fā)生產微型減速電機，齒輪箱電機，行星齒輪箱等產品，因為專注，所以。